? ? 一、上海電路板遮光檢
檢測(cè)時(shí)，將萬(wàn)用表?yè)艿?/span>“Rx?lk”擋，用一黑紙片將光敏電阻的透光窗口遮住，此時(shí)萬(wàn)用表的指針基本保持不動(dòng)，阻值接近無(wú)窮大，如圖2-24a所示。此值越大說(shuō)明光敏電阻性能越好。若此值很小或接近為零，說(shuō)明光敏電阻已經(jīng)燒壞，不能繼續(xù)使用。
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二、上海電路板對(duì)光檢測(cè) ’
將一光源對(duì)準(zhǔn)光敏電阻的透光窗口，此時(shí)萬(wàn)用表的指針應(yīng)有較大幅度的擺動(dòng)，阻值明顯減小。此值越小說(shuō)明光敏電阻性能越好，如圖2-24b所示；若此值很大甚至無(wú)窮大，說(shuō)明光敏電阻內(nèi)部開(kāi)路損壞，也不能繼續(xù)使用。
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三、上海電路板閃光檢測(cè)
將光敏電阻透過(guò)窗口對(duì)準(zhǔn)入射光線(xiàn)，用小黑紙片在光敏電阻的遮光窗上部晃動(dòng)，時(shí)期間斷受光，此時(shí)萬(wàn)用表指針應(yīng)隨黑紙片的晃動(dòng)而左右擺動(dòng)，說(shuō)明光敏電阻已經(jīng)損壞。
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